 |
|
 |
 |
 |
 |
Молекулярная спектроскопия
Вспомогательное оборудование
Системы ввода пробы для ИПС и ИПС-МС (различных производителей). Лампы для ААС
Элементный анализ С,H,N,S,O
CHNS/O анализ органических материалов
In-situ cпектральные эллипсометры
In-situ спектроскопические эллипсометры предназначены для проведения технологического контроля процессов получения эпитаксиальных пленок и различных функциональных покрытий в режиме реального времени. Метод позволяет определять толщины слоев с молекулярным разрешением, измерять их оптические константы и многие другие важные характеристики.
In-Situ спектроскопические эллипсометры серии AutoSE
для In-Situ технологического контроля нанесения тонких покрытий; спектральный диапазон 430 нм - 1000 нм
In-Situ спектроскопические эллипсометры серии Uvisel
для In-Situ технологического контроля нанесения тонких покрытий; спектральный диапазон 190 нм - 2100 нм
Контакты
Тел./Факс: (498) 744-67-18, (477) 361-81-18
Адрес: 141700, Московская область,
г. Долгопрудный, ул. Дирижабельная, 15 А
E-mail: nytek@nytek.ru
Адрес: 141700, Московская область,
г. Долгопрудный, ул. Дирижабельная, 15 А
E-mail: nytek@nytek.ru
|
|
3w-Style