Семинар «Современные методы оптической спектроскопии и анализа поверхности для научных и аналитических задач»

Уважаемые господа!

Приглашаем вас принять участие в семинаре «Современные методы оптической спектроскопии и анализа поверхности для научных и аналитических задач: новые технические решения и приложения». В рамках семинара вы сможете ознакомиться с такими современными методами анализа поверхности, как спектрометрия тлеющего разряда и спектральная эллипсометрия.

Спектрометрия тлеющего разряда используется для анализа химического состава покрытий и внутренней структуры образца. Это единственный метод, который позволяет менее чем за минуту получить информацию о химическом составе образца по глубине. Метод представляет интерес для специалистов, занимающихся покрытиями на металлах и сплавах, полупроводниками, полимерными покрытиями, стеклами, PVD- и CVD-покрытиями.

Спектральная эллипсометрия позволяет исследовать свойства тонких пленок: определять толщину и оптические константы для однослойных и многослойных структур, а также исследовать анизотропию, градиент, морфологию, кристалличность, химический состав и электропроводность образцов. Метод хорошо подходит для специалистов, занимающихся исследованием полупроводников, диэлектриков, полимеров, оптических покрытий, нанотрубок, различных органических веществ и металлов.

Дата и время проведения семинара: 20 октября 2015 года.
Место проведения: конференц-зал «Москва», бизнес-центр «На Филипповском», г. Москва, Филипповский пер., д. 8, стр. 1 (м. Кропоткинская, Арбатская).

Программа мероприятия доступна по ссылке: Программа Найтек семинар GD-TF 20окт2015.

Участие в семинаре бесплатное. Регистрация обязательна.

Для регистрации на мероприятие, пожалуйста, заполните Регистрационную форму и пришлите ее до 16 октября 2015г. на адрес электронной почты: alina@nytek.ru.

Контактное лицо:
Алина Халитова, +7 (495) 661-0681 доб. 109, alina@nytek.ru.

Будем рады видеть вас в числе участников!